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 | 美國(guó) TREK 157防靜電設(shè)備檢測(cè)儀美國(guó)Trek 520非接觸靜電表面電壓測(cè)量?jī)x 在離子環(huán)境或無(wú)離子環(huán)境提供高精度,非接觸靜電表面電壓測(cè)量。Model 520使用新的測(cè)量技術(shù)克服以前掌上型靜電電壓表的缺點(diǎn)。 Model 520探針具測(cè)試表面距離5mm到25mm，能提供5%的測(cè)試精度。在這個(gè)距離范圍內(nèi)，其他掌上型靜電電壓表測(cè)試資料將超過(guò)0％的錯(cuò)誤。Model 520可追朔NIST的標(biāo)準(zhǔn)。Model 520使用一個(gè)微薄的感測(cè)器探針能在許多 地方更加靈活地進(jìn)行測(cè)試，而不受空間限制。并且微薄的 探針提供更高的測(cè)試精度。Model 520使用 |
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 | 美國(guó)TREK 156A平板式靜電測(cè)試儀/離子風(fēng)機(jī)分析儀該產(chǎn)品為離子平衡測(cè)量?jī)x，主要用于離子產(chǎn)生器及離子風(fēng)扇的工作效率。 |
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 | 美國(guó)Trek 152-1數(shù)顯式表面電阻測(cè)試儀主機(jī)+152p-2p探頭標(biāo)準(zhǔn)配置：Trek 152-1主機(jī)、152p-2p探頭、說(shuō)明書、出廠報(bào)告、電源適配器等附屬件 |
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 | 美國(guó)Trek Model 152數(shù)顯式表面電阻測(cè)試儀探頭152P-CR-1防靜電材料表面電阻和體電阻測(cè)量?jī)xTREK-152-1 采用了一種測(cè)量技術(shù)可以符合各種ANSI/ESD協(xié)會(huì)的規(guī)范,實(shí)現(xiàn)針對(duì)一些防靜電材料的表面電阻值,電阻系數(shù)和體電阻值測(cè)量,如符合STM2.1規(guī)范測(cè)量防靜電服, 符合STM4.1規(guī)范測(cè)量工作桌面. |
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 | 美國(guó)Trek 152-1數(shù)顯式表面電阻測(cè)試儀主機(jī)防靜電材料表面電阻和體電阻測(cè)量?jī)xTREK-152-1 采用了一種測(cè)量技術(shù)可以符合各種ANSI/ESD協(xié)會(huì)的規(guī)范,實(shí)現(xiàn)針對(duì)一些防靜電材料的表面電阻值,電阻系數(shù)和體電阻值測(cè)量,如符合STM2.1規(guī)范測(cè)量防靜電服, 符合STM4.1規(guī)范測(cè)量工作桌面. |
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 | 美國(guó)Trek 152P-2P數(shù)顯式表面電阻測(cè)試儀美國(guó)Trek 152P-2P數(shù)顯式表面電阻測(cè)試儀采用了一種測(cè)量技術(shù)可以符合各種ANSI/ESD協(xié)會(huì)的規(guī)范,實(shí)現(xiàn)針對(duì)一些防靜電材料的表面電阻值,電阻系數(shù)和體電阻值測(cè)量,如符合STM2.1規(guī)范測(cè)量防靜電服, 符合STM4.1規(guī)范測(cè)量工作桌面. |
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 | 美國(guó) TREK 520手持式靜電電壓測(cè)試儀美國(guó)Trek 520非接觸靜電表面電壓測(cè)量?jī)x 在離子環(huán)境或無(wú)離子環(huán)境提供高精度,非接觸靜電表面電壓測(cè)量。Model 520使用新的測(cè)量技術(shù)克服以前掌上型靜電電壓表的缺點(diǎn)。 Model 520探針具測(cè)試表面距離5mm到25mm，能提供5%的測(cè)試精度。在這個(gè)距離范圍內(nèi)，其他掌上型靜電電壓表測(cè)試資料將超過(guò)0％的錯(cuò)誤。Model 520可追朔NIST的標(biāo)準(zhǔn)。Model 520使用一個(gè)微薄的感測(cè)器探針能在許多 地方更加靈活地進(jìn)行測(cè)試，而不受空間限制。并且微薄的 探針提供更高的測(cè)試精度。Model 520使用 |
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 | 美國(guó)Trek Model 152數(shù)顯式表面電阻測(cè)試儀重錘152BP-5P防靜電材料表面電阻和體電阻測(cè)量?jī)xTREK-152-1 采用了一種測(cè)量技術(shù)可以符合各種ANSI/ESD協(xié)會(huì)的規(guī)范,實(shí)現(xiàn)針對(duì)一些防靜電材料的表面電阻值,電阻系數(shù)和體電阻值測(cè)量,如符合STM2.1規(guī)范測(cè)量防靜電服, 符合STM4.1規(guī)范測(cè)量工作桌面. |
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