SPLAT-II 單顆粒激光解析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
1)儀器描述
單 顆 粒 激 光 解 析 飛 行 時(shí) 間 質(zhì) 譜 儀 SPLAT-II ( Single Particle Laser AblationTime-of-Flight Mass Spectrometer II)是一種單顆粒質(zhì)譜儀,采用 UV/IR兩步解析,并用兩束間隔 2~3μs 的激光將氣溶膠解吸附和電離過程分開進(jìn)行,在短暫的時(shí)間間隔內(nèi)解吸產(chǎn)生的化合物蒸氣,密度降低,減少了電離過程中的基質(zhì)效應(yīng),并可提供前所未有的靈敏度和時(shí)間分辨率,增加細(xì)粒子檢測的幾率和精度。該儀器 1 秒種內(nèi)可以對 500 多個(gè)氣溶膠粒子進(jìn)行粒徑測量,并能對其中的 100 個(gè)單粒子進(jìn)行化學(xué)組成分析。在 SPLAT-II 的入口安裝 DMA 分析儀,兩種儀器的聯(lián)用可以得到氣溶膠顆粒的粒徑、化學(xué)組成、有效密度、形狀因子和吸濕性等特征 ,甚至能夠區(qū)分球形和非球形粒子。在SPLAT-II 中,顆粒解離由激光器完成,標(biāo)準(zhǔn)配置的飛行質(zhì)譜記錄正離子的飛行時(shí)間,且縱向分辨率為 14bit;可選配置可同時(shí)記錄正、負(fù)離子的飛行時(shí)間。SPLAT-II 可搭載于飛機(jī)上進(jìn)行航空測量。
2)儀器參數(shù)
靈敏度:1 P/cm3s(>125 nm)
定徑精度:3 nm
離子發(fā)生裝置:紫外燒蝕或紅外蒸發(fā)或紫外離子化
化學(xué)分析:飛行時(shí)間質(zhì)譜儀
A/D 轉(zhuǎn)換器:縱向分辨率 14 bit
定徑速率:>500P/s
粒子形狀:區(qū)分球形和非球形粒子
SPLAT/DMA:密度、形狀、分形維數(shù)、吸濕性
質(zhì)譜測定速率:100P/s
粒徑范圍:50…3000 nm
3)儀器應(yīng)用
柴油車尾氣中的應(yīng)用
粒徑分布
化學(xué)成分分析
在有機(jī)氣溶膠方面的應(yīng)用
顆粒形態(tài)學(xué)方面的應(yīng)用
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維修流程
- 1、技術(shù)溝通,初步判斷問題電話,與客戶進(jìn)行初步溝通、了解并初步判斷儀器所出現(xiàn)的故障問題。
- 2、簽訂維修協(xié)議由我公司向客戶發(fā)送儀器維修協(xié)議,客戶需如實(shí)填寫內(nèi)容并回傳以便我司對儀器做進(jìn)一步判斷。
- 3、客戶郵寄儀器客戶可按照我司地址郵寄儀器,并將快遞單拍照發(fā)送至您的專屬客服進(jìn)行備案。
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